产品介绍

　　在半导体器件中，不完整的结晶度往往会导致禁带隙中的缺陷或陷阱态，这极大地影响了器件的整体光学和电学性能。 由于带隙中的吸收系数极低，产生的光电流信号也极弱。 因此，需要高度灵敏的检测系统。

特色

　● 陷阱状态、缺陷状态或电荷转移状态的直接光谱学证据。

　● 波长范围：1.1~2.07 eV (600nm~1100nm)；选项：0.70 eV~2.07 eV (600nm~1800nm)。

　● Turn-key解决方案；安装后产生可靠的光谱数据。节省时间和成本效益（至少1年和2万美元）。

　● 完整的培训课程，包括操作和基本背景培训。

　● 超过 50 篇 SCI 期刊论文证明。

　● 不仅仅是数据采集，还包括能级拟合! 提供CTS和Urbach能级拟合软件。

系统设计

规格

10^-5%（7 个量级）* FTPS系统的检测动态可以达到7 个量级，但较低EQE水平由DUT的热噪声本身决定。

实证

光焱科技FTPS傅立叶变换光电流光谱仪实证如下：

　● Organic PV INFO 于 2021 年 2 月 18 日报道说，了解并大限度地减少性能损失对于实现更高的 OPV 效率至关重要。 PECT-600 的 FTPS 系统正在帮助研究人员了解 Voc 损失机制的细节。

　● ~18% 有机太阳能电池：Enlitech 的 Voc 损耗分析工具用于开发有机光伏电池的新材料，效率达到了近 18%。

　● ~17% 有机太阳能电池：Enlitech 的外部量子效率被用于Voc损耗计算，并开发了效率近17%的有机太阳能电池。

　● 钙钛矿太阳能电池 (Voc=1.16V)：Enlitech 的Voc损失分析技术提供了用Lewis碱抑制非辐射重组损失的证明。过氧化物太阳能电池的Voc值从1.10 V提高到1.16 V。

应用

　● 光電信號測量

　● EQE測試

　● CTSF電賀轉移態能階擬和分析

　● 測試稜利範圍：0.7~2eV，測量波長範圍600~1800nm

　● 電賀轉移態能階Ect、重組能λ、電賀轉移態常數f擬和計算