產品簡介

光焱科技REPS Voc损耗分析仪可以检测极低的 EL-EQE 信号（低至 10-5%，即 7 个数量级），还可以计算热力学 Voc、辐射复合 Voc 和非辐射复合 Voc（通过其软件SQ-VLA）。此外，也可以在一个柱状图中分析不同类型设备之间的ΔE1、ΔE2和ΔE3损耗。重要的是，分析软件可以帮助用户将计算出的Voc-loss与设备IV曲线的真实Voc-loss进行匹配，从而促进研究进展和期刊发表。

特色

*它可以测量：absolute EL-EQE、EL spectra(V)、JV curve、EQE-J。

*该软件可以显示的图表包括：EL-EQE(J)、EL-EQE(V) 、multi-EL-spectra、 JVL曲线、ΔE1、 ΔE2、和ΔE3直方图。

*该系统可以计算和分析热力学Voc、辐射复合Voc和非辐射复合Voc。

*波长检测范围：300~1100纳米；并可扩展到1700纳米（选项）。

* NIST-traceable absolute radiometric calibration（瓦特，从300~1100纳米）。

*EL-EQE检测范围：10-5%到极大值（动态范围7阶）。

*EL-EQE un-repeatability<1%。

*EL-EQE un-reproducibility<1.5%。

*EL低光检测SN比：>50:1 @5×10-5%（REPS Pro）。

*Glove Box 整合工具包。

*客制的测试夹具。

规格

REPS系统另有进阶类型(REPS Pro)，其规格比较如下：

应用范围

光焱科技REPS Voc损耗分析仪可用于：

– 改善OPV的Voc-loss

– 改善钙钛矿 Voc-loss

– 电荷传输状态识别