光譜回應產品介紹

傳統的量子效率系統在新型光電探測器面臨許多測試方法挑戰。 如：

1.偏置電壓無法超過 12V：傳統量子效率系統使用鎖相放大器，其承受直流電壓無法過大，因此在一般的量子效率測試儀，電偏壓無法施加超過 12V。

2.無法做雜訊頻率分析。

3.無法直接測得 NEP 與 D*。

光焱科技針對新世代的光電探測器 （PD） 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE。

特色

PD-QE 系統是光焱科技在過去十年的小光斑 （power mode） 基礎上，進化開發完成。

PD-QE光譜回應測試與光電感測器特性分析 擁有以下幾點特色：

*可應用在 PV 的 EQE 量子效率測試、新型光感測器的研究。

*在全新的軟體平臺 SW-XQE 上，具有便捷的擴充性：可測試標準 EQE 外，更可整合多種 SMU 的控制，並量測IV曲線。 同時具備各種分析功能，如 D*、NEP、頻率雜訊圖。

規格

*PD-QE 有不同的模組，偏置電壓也可由 20 V 到 1000 V。 同時，可測量高解析度的光電流，解析度最高可達 ^10-16 A。

*波長擴充可達 1800 nm。

*可選配軟體升級控制 Kiethley 4200 SMU。

應用

PD-QE光譜回應測試與光電感測器特性分析可用於：

*有機光感測器 （OPD， Organic Photodiode）

*鈣鈦礦光感測器 （PPD， Perovskite Photodiode）

*量子點光感測器 （QDPD， Quantum Dots Photodiode）

*新型材料光感測器

實證

# NEP/D*

PD-QE可直接針對器進進行頻率雜訊的測量與作圖。

# EQE 光譜

PD-QE 可以进行 EQE 光谱测试。除了标准的 300nm ~ 1100nm 波段，PD-QE 可扩展到 1800nm。图中显示不同波长响应器件，在 PD-QE 系统下，测的 EQE 量子效率光谱。

# 整合多种SMU控制进行IV曲线测试

PD-QE 已整合 Keithley 与 Keysight 出产的多种 SMU，进行多种的 IV 曲线扫描。用户无需另外寻找或是自行整合 IV 曲线测试。图中显示 PD-QE 测试不同样品的 IV 曲线，并进行多图显示。

#噪声电流频谱图

PD-QE 凭借*进数字讯号采集与处理技术，直接可测试各种探测器在不同频率下的噪声电流图。用户无需在额外购买、整合频谱分析仪进行测种测试！并且软件可以进行多种频段的特性分析，如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是针对新世代 PD 测试的完整解决方案。