特色

SPD2200具備全光譜性能測試包含：

*全光譜光譜回應（SR， Spectral Responsivity）

*全光譜量子效率（EQE， External Quantum Efficiency）

*全光譜光子探測率（PDP， Photon Detection Probability）

*暗計數DCR （Dark Count Rate）

*崩潰電壓BDV （Break-Down Voltage）

SPD2200亦能夠測試SPD的單光子辨析特性分析，包含：

*Jitter

*Afterpulsing probability

*Diffusion tail

*SNR

SPD2200整合了所有*進光學與電學系統，搭配光焱科技多年光感測器測試與分析的經驗，提供完整與便利的軟體控制介面與分析功能。 SPD2200可幫助您節省系統搭設的時間成本，並降低測試結果的不確定性。 加快產品的開發週期，提升產品的競爭力。

實證

*SPAD的暗計數與偏壓關係圖

*SPAD暗計數與崩潰電壓

*在不同電壓下SPAD光子探測效率的PDE光譜

*SPAD的Jitter測量