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先进光电探测器量子效率与参数分析系统
参考价:

型号:APD-QE

更新时间:2024-06-28  |  阅读:533

详情介绍

特色


  • 使用均勻光源的「照度模式」(Irradiance Mode) 符合ASTM E1021

  • 取代传统聚焦小光源,可以测试等级光电子检测器。

  • 均势光斑可以克服色散差与像差的问题,可准确测量得EQE曲线

  • 可搭配多种探针系统,实现非破坏性的快速测试。

  • 整合光学与测试系统,提高系统搭建效率。

  • 一体式自动化测试软件,自动光谱保存与检测,工作效率高。

  • 測試特性:

– 环境效率 EQE

– 光譜回應 SR

– IV 曲线检测

– NEP 光谱检测

– D* 光谱检测

– 噪声-电流-频率响应图(A/Hz -1/2 ; 0.01Hz~1,000Hz)

Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析



专业技术


先进光电探测器量子效率与参数分析系统定制化光斑尺寸与光强度

光焱科技APD-QE光谱仪量子效率检查系统在光束直达25mm光束尺寸、工作距200mm条件下检查,可以达到光强度与光均强度如下。在波长530nm时,光强度可以达到82.97uW/(cm 2 )。


波长 (纳米)半高寬(nm)光均U%=(Mm)/(M+m)
5毫米×5毫米3毫米×3毫米
47017.651.6%1.0%
53020.131.6%1.2%
63019.851.6%0.9%
100038.891.2%0.5%
140046.051.0%0.5%
160037.401.4%0.7%


在光斑直径25mm、工作距200mm条件下,APD-QE探测器量子效率测试系统测量的光均强度。

光焱科技具備自主光學設計能力。光斑與光強度在內容中,可以接受客製化,如有需要與我們聯繫。



先进光电探测器量子效率与参数分析系统定量控制功能


APD-QE 光感测器量子效率检测系统具有「定量」功能(选配),用户可以透过控制各个单色光子数,让各波长光子数都一样,并进行测试。这也是光感测科技 APD-QE 光感测器量子效率检测系统的独到技术,其他厂商都做不到。


先进光电探测器量子效率与参数分析系统使用定量子数控制模式(CP控制模式),子数变化可以 < 1%


系統架构

先进光电探测器量子效率与参数分析系统


系統規格

统一系统与探针整合

先进光电探测器量子效率与参数分析系统
可量測可客裂解
1.最终光強校正.客化暗箱
2.光谱响应测定.XYZ轴位移平台
3.外部量子效率(EQE).定制探针台整合服务.
4.NEP 光譜
5.D*光譜
6.噪音-电流-频率響應图(A/Hz -1/2 )
7.Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析
8.IV 曲线测试
.不同光IV 曲线测试
.定电流/电压,电压/电流间变化测试
.照光条件下

高均光斑

  采用了利傅立叶光学元件均光系统,可将单色光强度空间分布均势化。在 10mm x 10mm 面积以 5 x 5 检测光强度分,不一致势在 470nm、530nm、630nm、850nm 均可小於 1%。在 20mm x 20mm 面积以 10 x 10 矩检测光强度分,不一致势可以小於 4%。


PDSW 软体

  PDSW软件采用全新SW-XQE软件平台,可进行多种自动化检测,包含EQE、SR、IV、NEP、D*、速率杂讯电流图(A/Hz1/2)、杂讯分析等。



▌EQE 测试

  EQE测试功能,可以进行不同单色波长测试,并且可以自动测试全光谱EQE。


▌IV檢查

  软体可支持多种 SMU 控制,自动进行光照 IV 测试以及暗态 IV 测试,并支持多图显示。


▌D* 与 NEP

  相对于其它 QE 系统,APD-QE 可以直接检测并得到 D* 与 NEP。


▌速率-杂讯电流曲线


▌可升级软件

  升级FETOS软件操作界面(选配),可测试3端与4端的Photo-FET组件。


内部集成探针台


  APD-QE 系统由其出色的光学系统设计,可以组成多种探针台。全波长光谱仪的所有光学元件都集成在精巧的系统中。单色光学仪引到探针台遮光罩盒。图像显示了 MPS-4-S 基本探针台组件,带有 4 英寸真空吸入盘和 4 个带有低噪音三轴电子的探针微定位器。

先进光电探测器量子效率与参数分析系统
先进光电探测器量子效率与参数分析系统
先进光电探测器量子效率与参数分析系统

  集成探针台显示微镜,手动滑动切换到被测试设备的位置。使用滑动条件后,单色光源器被「固定」在设计位置。显示微图像可以显示于屏幕上,方便用户进行良好的连接。


可客制化整合多种探针与遮光暗箱

先进光电探测器量子效率与参数分析系统

A. 定制化隔离遮光箱。
B. 由于先进的PD估算响应速度,所以有效面积就要小(降低容量效率),因此,有很多需要整合探针台的需求。
C. 可整合不同的半导体分析仪器如4200或E1500。


應用程式

  1. LiDAR 中的光电探测器
    – InGaAs 光电二维 / SPAD

  2. 苹果手錶光能電感測器

  3. 用於高增益感和成像光電二極體門控電晶體

  4. 高频电感增益和填充系数光学灵敏度分析仪

  5. 高灵敏程度间转换X射线探測器表徵

  6. 矽光學
    – InGaAs APD











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