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光焱科技光伏电池效率损失分析仪
参考价:

型号:QE-RX

更新时间:2024-03-25  |  阅读:3803

详情介绍

特色

QE-RX光伏电池效率损失分析仪 的特色如下:


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*高度准确且低不确定性

QE-RX 的校准是NIST 可追溯的,这使得 QE-RX 的测试数据的不确定性低于任何其他 EQE 测试系统。同时,QE-RX 是由Enlitech 开发的,Enlitech 拥有 10 年的ISO / IEC 17025 认证的校准实验室。这使得 QE-RX 对 Si 太阳能电池的测试结果高度准确。依靠 QE-RX,它将为您提供可靠的结果。

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*结构紧凑但功能多样

QE-RX 将所有光学和机械部件集成在 80cm x 80cm x 60cm 的主体内,其中包括电信号采集锁相放大器。不限于其紧凑的尺寸,QE-RX 仍然提供各种测试数据,包括太阳能电池的 EQE、光谱响应、反射率和 IQE。紧凑而多功能是 QE-RX 的优势。

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*功率损耗分析

QE-RX 结合 SQ-JVFL 软件,可以提供最完整的分析功能,包括 Jsc-loss、Voc-loss、FF-loss 和带隙计算。这些参数是生产产量控制和效率建议的关键因素,这使得 QE-RX 成为光伏行业的最佳合作伙伴。


.用于 PESC、PERC、PERL、HJT、背接触、双面和 TOP-Con 硅太阳能电池

.提供 QE(量子效率)、PV-EQE(外部量子效率)、IPCE(入射光子-电子转换效率)、SR(光谱响应)、IQE(内部量子效率)和反射率方面的数据。

.结构紧凑且重复性高超过 99.5%。

.波长范围:300~1200 nm

.Jsc损失分析和报告(使用SQ-JVFLA软件)。

.职业损失分析和报告(使用SQ-JVFLA软件)。

.FF损失分析和报告(使用SQ-JVFLA软件)。

.提供的EQE不确定度评估报告和经ISO/IEC 17025认证的质量控制,可用于期刊论文投稿。

.多样化和定制化的样品测试装置。


系统设计

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规格

QE-RX主机功能

Ø   测量波长范围:300-1200nm (可扩展)

Ø   各波长测量重复性:300-390nm 平均不重复性≦ 0.3%400-1000 nm 平均不重复性 0.15%1000-1200nm波长平均不重复性 0.25%

Ø   短路电流密度不重复性 0.1%

Ø   准确性<0.1%  

Ø   量测10次计算平均不重复性 = 相对标准差/平均值* 100%

Ø   测量时间:300-1200nm,扫描间隔10nm,测量不超过3分钟

Ø   测量暗箱:80cm测量遮罩暗室

Ø   适用环境: 温度15~35度,湿度20%~65%

Ø   具备短路电流、开路电压、填充因素三大损耗分析

软件功能

Ø  绝对光强校正

Ø  光谱响应测量

Ø  外部量子效率测量(EQE

Ø  带宽能隙分析(Bandgap

Ø  自动、即时短路电流密度Jsc计算

Ø  单波长短路电流自动计算

Ø  独立控制操作整体硬件系统及资料读取

Ø  光谱失配因素计算(MMF

Ø  信号监控功能

Ø  任意AM光谱短路电流密度计算功能

Ø  资料保存格式txt |

应用范围

QE-RX光伏电池效率损失分析仪 可用于:

*PERC / HJT / TOP-Con 光伏太阳能电池效率-损失分析

*IEC-60904-8 光谱响应测量

*IEC-60904-7 失配系数计算

*IEC-60904-1 MMF 校正

*矽太阳能电池加工质量控制

*矽太阳能电池带隙测定





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